Investigadores del MIT descubren técnica para mejorar microelectrónica mientras estudiaban materiales de reactores nucleares

Un equipo de investigadores del MIT, mientras estudiaba formas de monitorizar la corrosión y las grietas en reactores nucleares, realizó un descubrimiento inesperado que podría revolucionar la microelectrónica. Usando un potente haz de rayos X para simular la radiación intensa de un reactor, los científicos observaron que podían controlar con precisión la tensión en la estructura cristalina de materiales como el níquel. Esta capacidad de ajustar la tensión interna en los materiales es clave para la denominada ingeniería de tensiones, utilizada en la fabricación de semiconductores para mejorar el rendimiento eléctrico y óptico de los dispositivos. Además, el equipo logró desarrollar un método de monitorización 3D en tiempo real de la degradación de materiales en un entorno simulado de reactor nuclear, y descubrió que la exposición prolongada a los rayos X relajaba la tensión interna, permitiendo reconstrucciones 3D muy precisas de los cristales. Este hallazgo, aunque accidental, abre nuevas posibilidades para la fabricación de chips más eficientes y con mayor rendimiento, al ofrecer una técnica innovadora para ajustar las propiedades de los materiales durante su producción, combinando avances en ciencia de materiales y microelectrónica.