Conversión de un microscopio electrónico de barrido (SEM) en un microscopio de transmisión (TEM) mediante un adaptador casero

La noticia describe un proyecto experimental en el que un microscopio electrónico de barrido (SEM) ha sido modificado para funcionar parcialmente como un microscopio electrónico de transmisión (TEM). Aunque ambos tipos de microscopios utilizan haces de electrones, su principio de funcionamiento es diferente: el SEM analiza la superficie del material detectando electrones secundarios emitidos tras el bombardeo, mientras que el TEM permite observar la estructura interna del objeto al hacer pasar electrones a través de la muestra y registrarlos en un sensor situado detrás.

El proyecto, realizado por el creador conocido como [ProjectsInFlight] , consiste en diseñar un adaptador casero para habilitar lo que se conoce como STEM imaging. Este tipo de adaptación no es nuevo, pero los equipos comerciales suelen tener costes muy elevados, lo que ha motivado soluciones DIY más accesibles. Uno de los principales retos técnicos fue el limitado espacio dentro de la cámara del SEM, con apenas unos 14 mm de margen entre el portamuestras y los componentes internos delicados.

Para resolverlo, se fabricó un nuevo portamuestras más fino en aluminio mediante mecanizado, lo que permitió integrar un espejo para electrones primarios y un sistema de blindaje para reducir electrones secundarios. Tras varios ajustes mecánicos y pruebas en vacío, el sistema se afinó para mejorar la calidad de imagen. Las primeras pruebas con nanopartículas de oro revelaron problemas de fugas de electrones secundarios, corregidos posteriormente al rediseñar el blindaje.

Finalmente, el sistema consiguió imágenes TEM más claras, llegando incluso a observar estructuras detalladas en las alas de un mosquito. El proyecto demuestra que, con conocimientos de ingeniería y creatividad, es posible reutilizar equipos científicos complejos para nuevas funciones sin necesidad de grandes inversiones.